Testmetrikker – Tekkva seminar

Præsentationer af emnet: "Testmetrikker – Tekkva seminar"— Præsentationens transcript:

1 Testmetrikker – Tekkva seminar
Monday, 19 November 2018 Testmetrikker – Tekkva seminar Diskussionsoplæg 15. april 2011

2 Testmetrikker – Hvorfor?
19. november 2018 Testmetrikker – Hvorfor? Peter Guldborg (PGU)/AØU/AIT Testindsigt / erfaringer Projekter Afdeling (sammenligning) Forretningsområde Performance / cost Testkapacitet Testkvalitet Testeffektivitet Fokusområder Modenhed Testprocesforbedring

3 Testmetrikker – Hvad (eksempler)?
19. november 2018 Testmetrikker – Hvad (eksempler)? Peter Guldborg (PGU)/AØU/AIT Antal gennemførte reviews af arbejdsprodukter (tidlig statisk test) Antal oprettede og gennemførte testcases Antal fundne defects (inddelt i prioritet, severity mm.) Antal fundne defects / testcase og defects / testtime Antal fundne defects pr. testtype / det totale antal fundne defects i hele testprocessen + antal fundne defects i produktion 3 mdr. efter release)

4 Testmetrikker – Hvordan?
19. november 2018 Testmetrikker – Hvordan? Peter Guldborg (PGU)/AØU/AIT Timeregistreringer Testledelse (inklusiv testrapportering) Testforberelselse Testmiljø (inklusiv testdataoprettelse) Testgennemførelse Udtræk fra testmanagementværktøj Antal oprettede og gennemførte testcases Antal fundne fejl (inddelt i prioritet, severity mm.) Antal fundne fejl pr. testtype / Det totale antal fundne fejl i hele testprocessen Udtræk fra support/service Antal fundne fejl i produktion 3 mdr. efter release => Effektforhold = (DT / DT + DP)

5 Eksempel – Kapacitet testcases
Monday, 19 November 2018 Eksempel – Kapacitet testcases

6 Eksempel – Kapacitet testcases
Monday, 19 November 2018 Eksempel – Kapacitet testcases

7 Eksempel – Kapacitet defects
Monday, 19 November 2018 Eksempel – Kapacitet defects

8 Testeffektivitet pr. testtype
Monday, 19 November 2018 Testeffektivitet pr. testtype Test Niveau Unit Test Integration Test System Test User Test Accept Test Antal Defects I de 3 første måneder I produktion Number of Defects A B C D E F Unit Test Defect Detection ratio = A / (A + B + C + D + E + F) Integration Test Defect Detection ratio = (A + B) / (A + B + C + D + E + F) System Test Defect Detection ratio = (A + B + C) / (A + B + C + D + E + F) Accept Test Defect Detection ratio = (A + B + C + D + E) / (A + B + C + D + E + F) Defect Detection Percentage (DDP) ratio tre første måneder i produktion DDP = (A + B + C + D + E) / (A + B + C + D + E + F) = (DT / DT + DP)